35KV anti-interference media loss tester

Parameters teknis

1. Käke luɔi

1.1 Temperature of environment: 0 ~ 40 ℃ (When the temperature exceeds 20 ℃ ± 5 ℃, each change 10 ℃ instrument basic error change amount does not exceed 1/2 of the basic error limit.)

1.2 Kɔɔr: 30% ~ 85%

1.3 Power Supply: Voltage: 220V ± 22V, Frequency: 50 ± 1Hz

2.外型尺寸：a×b×h,mm:440×330×400

2.1 Kɔɔr: ka tɛmɛ 23 kg

2.2 Elektronik Circuit Power Consumption: No greater than 40VA

2.3 Kuɛl:

2.3.1 Medium loss (tgδ): 0~1 Resolution 0.0001

2.3.2 Capacity (Cx): zui Small Resolution 0.01PF

Aplikasiɔn

A bɛ kɛ̈ɛ̈l ye kɛ̈l ye kɛ̈l ye kɛ̈l ye kɛ̈l ye kɛ̈l ye kɛ̈l ye kɛ̈l A tɛ̈n yenë yen luɔɔi bɛ̈ɛ̈i kɔnɔ, yen bɛ̈ɛ̈i kɔnɔ, yen bɛ̈ɛ̈i kɔnɔ. Kä ye kek tɔ̈ɔ̈u në kë ye kek tɔ̈ɔ̈u në kë ye kek tɔ̈ɔ̈u në kë ye kek tɔ̈ɔ̈u në kë ye kek tɔ̈ɔ̈u në kë ye

Lëk:

1. Ajuiɛɛr kënë adhil bï ya luɔ̈ɔ̈i në ɣän ke piny cï kek ya looi.

2. Ka tɛ̈n ka tɛ̈n ka tɛ̈n ka tɛ̈n ka tɛ̈n ka tɛ̈n ka tɛ̈n ka tɛ̈n ka tɛ̈n ka tɛ̈n ka t

3. Lɔ̈ɔ̈m ka tɛ̈ɛ̈m ka tɛ̈ɛ̈m ka tɛ̈ɛ̈m ka tɛ̈ɛ̈m ka tɛ̈ɛ̈m.

4. luɔ̈ɔ̈i ku gël, kɔc ye luɔ̈ɔ̈i ka cɛ̈ɛ̈k, ka cɛ̈ɛ̈k, ka cɛ̈ɛ̈k, ka cɛ̈ɛ̈k, ka cɛ̈ɛ̈k, ka cɛ̈ɛ̈k

Karakteristik

Liquid Crystal Chinese Display

Aŋuɔ̈ɔ̈th ye tɔ̈u në screen dït (105mm × 65mm) Chinese menu interface, screen ye tɔ̈ɔ̈u në biäk juëc yiic, biäk ye menu ye tɔ̈u në biäk ye tɔ̈u në biäk ye tɔ̈u në biäk ye tɔ̈u në biäk ye tɔ̈u në biäk ye tɔ̈u në biäk ye tɔ̈u në biäk ye tɔ̈ A ye luui tök, microcomputer ye tɛ̈n yenë tɛ̈n yenë tɛ̈n yenë tɛ̈n yenë tɛ̈n yenë tɛ̈n yenë tɛ̈n yenë tɛ̈n yenë tɛ̈n yenë tɛ

Kä juëc ye data tɔ̈ɔ̈u

Kä ye kek tɔ̈ɔ̈u thïn aye kek tɔ̈ɔ̈u thïn në kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam de kaam.

Science Advanced Data Management

Kä ye kek tɔ̈ɔ̈u në instrumente yiic alëu bï kek ya looi në USB disk yiic, ku bï kek ya tɔ̈ɔ̈u në PC yiic, ku bï kek ya tɔ̈ɔ̈u në software yiic, ku bï kek ya tɔ̈ɔ̈

Modèles de test juëc

Instruments can be tested in different ways using internal high pressure, external high pressure, internal standard, external standard, positive response method, reverse response method, and self-excitation method. Instruments can be tested in different ways using internal high pressure, external high pressure, internal standard, external standard, positive response method, reverse response method, and self-excitation method. A lëu bï ya looi bɛ̈ɛ̈i dɔ̈ŋ (ka tɔ̈u 10kV) bɛ̈ɛ̈i dɔ̈ŋ (ka tɔ̈u 10kV).

CVT test ye looi

A bɛ se ka tɛmɛ CVT (Capacitive Voltage Interchanger) C1, C2 ye tɛmɛ C1, C2 ye tɛmɛ C1, C2 ye tɛmɛ C1, C2 ye tɛmɛ C1, C2 ye tɛmɛ C1, C2 ye tɛmɛ C1. Aŋuɛ̈ɛ̈r kënë alëu bï CVT variability ku voltage angle difference ya them.

CVT measurement without removing high voltage leads (CVT measurement without removing high voltage leads) (CVT measurement without removing high voltage leads) (CVT measurement without removing high voltage leads) (CVT measurement without removing high voltage leads)

Kä ye kek looi alëu bïk kä ye kek looi në CVT ku kä ye kek looi në CVT ya them ka tɛ̈n ye kek looi në CVT ka tɛ̈n ye kek looi në CVT ka tɛ̈n ye kek looi në CVT.

35KV anti-interference media loss tester